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GFQLR-200半導體制冷積分球冷熱臺
GFQLR-200半導體制冷積分球冷熱臺半導體制冷原理的冷熱臺，體積小變溫速度快，直接貼附在積分球上使用?？蛇m用于透射和反射情況。散熱可選擇水冷和風冷方式。附件:可另外增加一路樣品溫度采集
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GQGT-600型光纖光譜儀冷熱臺
GQGT-600型光纖光譜儀冷熱臺光纖光譜儀可用于變溫的光學投射或反射測量，也可以用于樣品被紫外線或X射線激發(fā)后的光學測量。溫控軟件可集成溫度和光譜數(shù)據(jù)，并實時顯示和保存。
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GPLR-600型小型光譜儀冷熱臺
GPLR-600型小型光譜儀冷熱臺體積小巧、溫度范圍廣。 內(nèi)部可以增加最多四個電學探針，可實現(xiàn)在光學測量的同時可進行電信號測量。 可以增加側(cè)面支架和氣氛接頭，使用非常靈活。
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BDTGP-100型半導體制冷光譜儀冷熱臺
BDTGP-100型半導體制冷光譜儀冷熱臺可配合光譜儀使用，體積小變溫速度快，適合千研究二氧化鋼等半導體材料
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JFQ-300型積分球冷熱臺
JFQ-300型積分球冷熱臺簡要描述:JFQ-300型積分球冷熱臺提供氣氛接頭，在積分球上變溫測試的同時可進行不同氣氛下的測試。熱臺背面通道可增加一路溫度傳感器測量樣品內(nèi)部溫度。適配窗口直徑40mm的...
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SCGP-600型兩面窗口光譜儀冷熱臺
SCGP-600型兩面窗口光譜儀冷熱臺采用旋蓋結(jié)構(gòu)取放樣品。變溫區(qū)間大，適合不同材料的光學性質(zhì)研究。窗口可更換不同材質(zhì)的窗片，同時腔體可根據(jù)光譜儀不同廠家型號訂制安裝板; 配套:A2402(光譜儀圓腔...
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TPYLR-500型橢偏儀冷熱臺
TPYLR-500型橢偏儀冷熱臺 橢偏儀作為一種非破壞性、高精度的光學表征設(shè)備，廣泛應(yīng)用于薄膜厚度、折射率、吸收系數(shù)等材料參數(shù)的測量。然而，橢偏儀的測量精度往往受限于外界環(huán)境的溫度變化，特別是在對溫度...
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SCLR-600型多窗口光譜儀冷熱臺
SCLR-600型多窗口光譜儀冷熱臺多面窗口光譜儀冷熱臺擁有四面觀察窗口，液氨管路和電氣連接線設(shè)置在腔體上表面，合適封閉的光路測試需求。它的樣品臺與窗口夾角可每15°間隔調(diào)節(jié)。
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CMCG-400型超低溫光學冷熱臺平臺
CMCG-400型超低溫光學冷熱臺平臺此型號冷臺采用縣空隔振設(shè)計，樣品臺震動小于100nm。冷臺體積小巧，方便與顯微鏡、拉曼光譜儀等設(shè)備集成。附件豐富，包括低溫壓電位移臺、光前組件、電學接頭、不同材質(zhì)...
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BWSL-1000型小型薄膜雙向拉伸試驗儀
BWSL-1000型小型薄膜雙向拉伸試驗儀小型雙向拉伸試驗儀能將厚度在3mm以下,最小70見方的可作雙向拉伸薄膜材料厚膜樣片，按所需的拉伸比，在適合溫度及時間內(nèi)進行成膜拉伸試驗，供實驗室進行物理和化學...
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北京精科智創(chuàng)科技高低溫介電測試系統(tǒng)
高低溫介電測試系統(tǒng)用于高低溫環(huán)境下材料、器件的介電性能測試與分析，可測試以下參數(shù)隨溫度(T)、頻率(f)、電平(V)、偏壓(Vi)的變化規(guī)律：電容(C)、電感(L)、電阻(R)、電抗(X)、阻抗(Z)...
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TDFE-3000A型薄膜鐵電測試儀
TDFE-3000A型薄膜鐵電測試儀是一款高量程款的鐵電性能材料測試裝置，這款設(shè)備可以適用于鐵電薄膜、鐵電體材料（既可塊體材料）的電性能測量，可測量鐵電薄膜電滯回線、可測出具有非對稱電滯回線鐵電薄膜值...
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