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JKZC-STC600 高真空雙靶磁控濺射儀
JKZC-STC600高 真空雙靶磁控濺射儀是我公司自主新研制開發(fā)的一款高真空鍍膜設(shè)備，可用于制備單層或多層鐵電薄 膜、導電薄膜、合金薄膜、半導體薄膜、陶瓷薄膜、介質(zhì)薄膜、光學薄膜、氧化物薄膜、硬質(zhì)薄...
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SFD-200型系列雙試件導熱儀
防護熱板法導熱系數(shù)是衡量耐熱材料的導熱特性和保溫性能的重要參數(shù)，耐熱保溫材料的性能由材料的導熱系數(shù)決定。物質(zhì)的導熱系數(shù)取決于材料的成分、空隙度、吸水性、含水量、內(nèi)部結(jié)構(gòu)和熱傳導時的環(huán)境與溫度等諸多因素...
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TG-DSC300超高溫同步熱分析儀
TG-DSC300超高溫同步熱分析儀是一款可以同時測量TG和DSC的信號的熱分析儀器，溫度可升至1500℃，可進行多段溫度設(shè)置，彩色觸摸屏顯示，操作簡單快捷。
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HW-ISD2200nm紅外半導體激光器（1~400mW）
HW-ISD2200nm紅外半導體激光器高功率穩(wěn)定性、輸出功率0~Max連續(xù)可調(diào)節(jié)，線偏振，TE00模；
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FJH-3000型焦耳超快加熱裝置
通過結(jié)合快速升溫和高壓技術(shù)，使該載體在極短時間（0-10S）內(nèi)即可實現(xiàn)快速升溫至達到超快熱沖擊效果?？梢杂^察材料在變化、強烈熱震條件下的結(jié)構(gòu)、性質(zhì)變化情況，也使得在變化條件下超快制備小分子納米材料成為...
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ZJ-3A/B/J型壓電測試儀
ZJ-3A/B/J型壓電測試儀（靜壓電系數(shù)d33測量儀）是為測量壓電材料的d33常數(shù)而設(shè)計的專用儀器，它可用來測量具有大壓電常數(shù)的壓電陶瓷，小壓電常數(shù)的壓電單晶及壓電高分子材料。此外，也可測量任意取向...
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JKZC-RY600型超高溫智能數(shù)控熱壓機
該系列JKZC-RY600型超高溫智能數(shù)控熱壓機使用于壓制成型各類橡膠模型制品及非模型制品的主要設(shè)備，也可用于壓制各類熱固性塑料及發(fā)泡性橡塑制品。具有獨立的動力機構(gòu)和電器系統(tǒng)，采用按鈕集中控制。工作壓...
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ZJ-5型堆棧式壓電陶瓷D33測試儀
堆棧式壓電陶瓷由多個薄片狀的壓電陶瓷元件通過電極交替堆疊而成。這些壓電陶瓷片通常具有較小的厚度，一般在幾十微米到幾百微米之間，而直徑或邊長則可以根據(jù)具體應(yīng)用需求在幾毫米到幾十毫米范圍內(nèi)變化。
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PZT-DJ30/20型堆棧式壓電陶瓷極化裝置
PZT-DJ30/20型堆棧式壓電陶瓷極化裝置是一種專門應(yīng)用于堆棧式壓電陶瓷極化的極化裝置，堆棧式壓電陶瓷由多個薄片狀的壓電陶瓷元件通過電極交替堆疊而成。這些壓電陶瓷片通常具有較小的厚度，一般在幾十微...
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HEM-200 高低溫霍爾效應(yīng)測試系統(tǒng)
系統(tǒng)組成：HEM-200 高低溫霍爾效應(yīng)測試系統(tǒng)本儀器系統(tǒng)由電磁鐵、電磁鐵電源、高精度恒流源、高精度電壓表、矩陣卡、霍爾效應(yīng)樣品支架、標準樣品、系統(tǒng)軟件組成。本套系統(tǒng)測試應(yīng)用的是最新的KEITHLEY...
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HEM-500HA高低溫電磁型
HEM-500HA高低溫電磁型全自動霍爾效應(yīng)測試系統(tǒng)本儀器系統(tǒng)由電磁鐵、電磁鐵電源、高精度恒流源、高精度電壓表、霍爾效應(yīng)樣品支架、標準樣品、高低溫杜瓦，控溫儀，系統(tǒng)軟件組成。為本儀器系統(tǒng)專門研制的CH...
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FE-5000型寬量程鐵電性能測試儀
FE-5000型寬量程鐵電性能測試儀是一款高量程款的鐵電性能材料測試裝置，這款設(shè)備可以適用于鐵電薄膜、鐵電體材料（既可塊體材料）的電性能測量，可測量鐵電薄膜電滯回線、可測出具有非對稱電滯回線鐵電薄膜值...
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