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詳細(xì)介紹
| 品牌 | 其他品牌 | 產(chǎn)地類(lèi)別 | 國(guó)產(chǎn) |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 能源,電子/電池,航空航天,綜合 |
FE-5001型鐵電參數(shù)測(cè)試儀/PUND測(cè)試
關(guān)鍵詞：電滯回線(xiàn)，疲勞Fatigue，漏電流LM，電流-偏壓
FE-5001型鐵電參數(shù)測(cè)試儀/PUND測(cè)試是一款功能豐富的鐵電參數(shù)測(cè)試儀/PUND測(cè)試，可廣泛地應(yīng)用于如各種鐵電/壓電/熱釋電薄膜、厚膜、體材料和電子陶瓷、鐵電傳感器/執(zhí)行器/存儲(chǔ)器等領(lǐng)域的研究。
鐵電參數(shù)測(cè)試主要性能指標(biāo)：
a. 外接5 kV高壓放大器；
b. 動(dòng)態(tài)電滯回線(xiàn)測(cè)試頻率范圍0.01 Hz ～ 1 kHz；
c. 最大電荷解析度：10 mC；
d. 疲勞測(cè)試頻率300 kHz（振幅10 Vpp，負(fù)載電容1 nF）；
e. 漏電流測(cè)量范圍 1 pA ～ 20 mA，分辨率0.1 pA；
f. 配有高壓擊穿保護(hù)模塊。
本測(cè)試系統(tǒng)由主控器、高壓放大器、變溫綜合測(cè)試平臺(tái)（配鐵電測(cè)試盒）或高低溫探針臺(tái)（配高壓探針）、計(jì)算機(jī)及系統(tǒng)軟件部分組成。主控器集成了可編程波形發(fā)生器、內(nèi)置驅(qū)動(dòng)電壓、電荷積分器、可編程放大器、模數(shù)轉(zhuǎn)換器、通訊總線(xiàn)等功能，主控器提供擴(kuò)展外置高壓放大器接口，可擴(kuò)展±5 kV或±10 kV的高壓放大器。系統(tǒng)軟件包括可視化數(shù)據(jù)采集和管理功能，測(cè)試時(shí)，無(wú)需改變測(cè)試樣品的連接，即可實(shí)現(xiàn)滯回，脈沖，漏電，IV等性能測(cè)試。
本鐵電參數(shù)測(cè)試儀/PUND測(cè)試采用改進(jìn)的Sawyer- Tower測(cè)量方法，與傳統(tǒng)的Sawyer- Tower模式相比，此電路取消了外接電容，可減小寄生元件的影響。此電路的測(cè)試精度僅取決于積分器積分電容的精度，減少了對(duì)測(cè)試的影響環(huán)節(jié)，容易定標(biāo)和校準(zhǔn)，并且能實(shí)現(xiàn)較高的測(cè)量準(zhǔn)確度。
該系統(tǒng)測(cè)試功能：
動(dòng)態(tài)電滯回線(xiàn)DHM
I-V特性
脈沖PUND
疲勞Fatigue
漏電流LM
電流-偏壓。
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